試験・測定技術

試験・測定技術

アナログ／ロジックデバイスともにDC～RFまでの測定技術を保有しており、ウェハーテスト／ファイナルテストに対応しています。

RF測定技術

プローバーを用いてWafer状態で～2GHzまでのRFプロービング測定技術を保有しています。またダイシング済ノンリードPKG集合基板に対するRFプロービング測定技術も保有しています。

大電流測定技術

プローバーを用いて～2Aまでの大電流測定が、ノンリードPKG集合基板に対して可能です。

高耐圧試験技術

ハンドラーで～1000Vまでの絶縁耐圧試験が可能な技術を保有しています。